Número de Producto del Fabricante:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74BCT8373ANT-DG
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
Inventario:
1683754
Solicitar Cotización
Cantidad
Mínimo 1
Mínimo 1
(*) es obligatorio
Te responderemos en un plazo de 24 horas
Te responderemos en un plazo de 24 horas
ENVIAR
SN74BCT8373ANT Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
-
Serie
74BCT
Estado del producto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Latches
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Through Hole
Paquete / Caja
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paquete de dispositivos del proveedor
24-PDIP
Número de producto base
74BCT8373
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
15
Otros nombres
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (Unlimited)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Modelos Alternativos
NÚMERO DE PARTE
SN74BCT8373ADW
FABRICANTE
Texas Instruments
CANTIDAD DISPONIBLE
0
NÚMERO DE PIEZA
SN74BCT8373ADW-DG
PRECIO UNITARIO
9.11
TIPO DE SUSTITUCIÓN
MFR Recommended
Certificación DIGI
Productos relacionados
SN74ABT8543DLR
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
SN74ACT1284NSR
IC 7BIT BUS INTERFC 3ST 20SO
SN74LV161284DL
IC 19-BIT BUS INTERFACE 48-SSOP
