Número de Producto del Fabricante:
SN74BCT8374ANT
Product Overview
Fabricante:
Texas Instruments
Número de pieza:
SN74BCT8374ANT-DG
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
Descripción Detallada:
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops IC 24-PDIP
Inventario:
1648336
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ENVIAR
SN74BCT8374ANT Especificaciones Técnicas
Categoría
Lógica, Lógica Especializada
Fabricante
Texas Instruments
Embalaje
-
Serie
74BCT
Estado del producto
Obsolete
Tipo de lógica
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Voltaje de alimentación
4.5V ~ 5.5V
Número de bits
8
Temperatura de funcionamiento
0°C ~ 70°C
Tipo de montaje
Through Hole
Paquete / Caja
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Paquete de dispositivos del proveedor
24-PDIP
Número de producto base
74BCT8374
Hoja de Datos y Documentos
Hojas de datos
Información Adicional
Paquete Estándar
60
Otros nombres
2156-SN74BCT8374ANT-TI
TEXTISSN74BCT8374ANT
Clasificación Ambiental y de Exportación
Estado de RoHS
ROHS3 Compliant
Nivel de sensibilidad a la humedad (MSL)
1 (Unlimited)
Estado de REACH
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
Modelos Alternativos
NÚMERO DE PARTE
SN74BCT374N
FABRICANTE
Texas Instruments
CANTIDAD DISPONIBLE
0
NÚMERO DE PIEZA
SN74BCT374N-DG
PRECIO UNITARIO
4.14
TIPO DE SUSTITUCIÓN
MFR Recommended
Certificación DIGI
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